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1. 
Image de couverture de Innovations in E-learning, Instruction Technology, Assessment and Engineering Education
Innovations in E-learning, Instruction Technology, Assessment and Engineering Education
Innovations in E-learning, Instruction Technology, Assessment and Engineering Education
Auteur 
Iskander, Magued. editor. SpringerLink (Online service)
Numéro de cote topographique requis 
TK7867 -7867.5
ISBN (Numéro international normalisé des livres) 
9781402062629
Full Text Available From Springer Nature Engineering 2007 Packages
Format : 
Ressources électroniques
Disponible:
2. 
Image de couverture de Point-of-Care Technologies Enabling Next-Generation Healthcare Monitoring and Management
Point-of-Care Technologies Enabling Next-Generation Healthcare Monitoring and Management
Point-of-Care Technologies Enabling Next-Generation Healthcare Monitoring and Management
Auteur 
Vashist, Sandeep Kumar. author. Luong, John H.T. author. SpringerLink (Online service)
Numéro de cote topographique requis 
R856 -857
ISBN (Numéro international normalisé des livres) 
9783030114169
Full Text Available From Springer Nature Engineering 2019 Packages
Format : 
Ressources électroniques
Disponible:
3. 
Image de couverture de Reconfigurable RF Power Amplifiers on Silicon for Wireless Handsets
Reconfigurable RF Power Amplifiers on Silicon for Wireless Handsets
Reconfigurable RF Power Amplifiers on Silicon for Wireless Handsets
Auteur 
Leyssenne, Laurent. author. Kerhervé, Eric. author. Deval, Yann. author. SpringerLink (Online service)
Numéro de cote topographique requis 
TK5101 -5105.9
ISBN (Numéro international normalisé des livres) 
9789400704251
Full Text Available From Springer Nature Engineering 2011 Packages
Format : 
Ressources électroniques
Disponible:
4. 
Image de couverture de Thermal and Power Management of Integrated Circuits
Thermal and Power Management of Integrated Circuits
Thermal and Power Management of Integrated Circuits
Auteur 
Vassighi, Arman. author. Sachdev, Manoj. author. SpringerLink (Online service)
Numéro de cote topographique requis 
TK7867 -7867.5
ISBN (Numéro international normalisé des livres) 
9780387297491
Full Text Available From Springer Nature Engineering 2006 Packages
Format : 
Ressources électroniques
Disponible:
5. 
Image de couverture de Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems Modeling, Analysis and Optimization
Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems Modeling, Analysis and Optimization
Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems Modeling, Analysis and Optimization
Auteur 
Tan, Sheldon. author. Tahoori, Mehdi. author. Kim, Taeyoung. author. Wang, Shengcheng. author. Sun, Zeyu. author.
Numéro de cote topographique requis 
TK7867 -7867.5
ISBN (Numéro international normalisé des livres) 
9783030261726
Full Text Available From Springer Nature Physics and Astronomy 2019 Packages
Format : 
Ressources électroniques
Disponible:
6. 
Image de couverture de Functional Nanostructures and Sensors for CBRN Defence and Environmental Safety and Security
Functional Nanostructures and Sensors for CBRN Defence and Environmental Safety and Security
Functional Nanostructures and Sensors for CBRN Defence and Environmental Safety and Security
Auteur 
Sidorenko, Anatolie. editor. Hahn, Horst. editor. SpringerLink (Online service)
Numéro de cote topographique requis 
TH9701 -9745
ISBN (Numéro international normalisé des livres) 
9789402419092
Full Text Available From Springer Nature Physics and Astronomy 2020 Packages
Format : 
Ressources électroniques
Disponible:
7. 
Image de couverture de Practical Electronic Reliability Engineering Getting the Job Done from Requirement through Acceptance
Practical Electronic Reliability Engineering Getting the Job Done from Requirement through Acceptance
Practical Electronic Reliability Engineering Getting the Job Done from Requirement through Acceptance
Auteur 
Klion, Jerome. author. SpringerLink (Online service)
Numéro de cote topographique requis 
TK7867 -7867.5
ISBN (Numéro international normalisé des livres) 
9789401169707
Full Text Available From Springer Nature Engineering Archive Packages
Format : 
Ressources électroniques
Disponible:
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